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最新的高德电子报Vol.0046 - 多功能光电子能谱上安装气体反应室 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

最新的高德电子报Vol.0045 - 光电子能谱儀配置上多功能预处理室 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

最新的高德电子报Vol.0044 - 半球形能量分析器－固定通过能（FAT）模式  已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

最新的高德电子报Vol.0043 - 半球形能量分析器－固定减速比模式 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

2015年7月11日，贵阳 – 表面分析技术在过去二十余年在中国发展迅速，而当中几乎可以说大部份都使用在材料应用当中。高德公司以ＰＨＩ在中国的身份, 参加了2015年7月在贵阳举办的中国材料大会。是次会议总共参会人数达三千六百多人，包括了全国各大院校和科研机构，共同成就了大会成功的进行。   高德公司的中国区执行总监叶上远也参加了本次大会，与公司销售部鲁德凤女士和潘剑南一同，在大会时和众多参会的专家门介绍了ＰＨＩ公司最新的表面分析仪器和应用技术。    大会看版   何力教授的大会报告   高德公司以（PHI在中国）的展位现场   高德公司中国区总监叶上远先生（中）销售部鲁德凤女士（右）和潘剑南先生（左）

表面分析技术在过去二十余年在中国发展迅速，无论在高校领域或是工业发展上都扮演了重要的角色。自2012年起，已经是连续第4年举办的全国表面分析会议，本届继续由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会和北京分析测试协会表面分析专业委员会主办，并且有中国科学院宁波材料技术与工程研究所、国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心协办，在2015年5月14到17日于宁波精彩召开。   在会议开幕中，先由中国科学院宁波材料技术与工程研究所副所长李润伟致辞，并祝贺了本次会议成功召开。其后由学术委员会主任清华大学朱永法教授重新强调了会议本身的最大目的是在于建立一个公开与共享的平台，不因仪器的不同但以学术的本身把分析应用技术和信息共享，以达到不管是本身仪器的用户或是设备的制造商都可为了表面分析行业上的技术共同努力并获得正面的成果。当中，高德公司作为ULVAC-PHI公司在中国的唯一代表，非常认同朱教授的远大愿景和方向，也很荣幸的连续4年和ULVAC-PHI一同赞助了全国表面分析会议的召开。高德公司也会持续的以“PHI在中国”的姿态继续和ULVAC-PHI一起在中国对包括学术研究和工业等等的机构提供最好的表面分析仪器技术和售后支持。   在本年度宁波举行的全国表面分析会议参会人员约80多人，总共有31个主题报告，其中包括邀请了新加坡国立大学的陈伟教授和许昌学院的郑直教授；高德公司的鲁德凤女士则在会议中报告了使用俄竭电子能谱和飞行时间二次离子质谱仪对材料表面进行表征的应用实例，另外代表ULVAC-PHI原厂的柴崎先生Mr. Takuji Shibasaki则是介绍了使用PHI最新的光电子能谱仪器加上原位俄竭电子能谱分析如何解决复杂的电子原器件在生产和研发时的问题。在经过2天紧凑的会议后，本年度在宁波举办的全国表面分析会议在所有参会人员的热烈参与和讨论下圆满结束。   会议现场      高德公司和ULVAC-PHI在会议中设置的展台，展示了ULVAC-PHI公司全系列表面分析仪器的最新技术      鲁德凤女士在会议中报告有关AES和Tof-SIMS的表征和应用      柴崎先生（Mr. Takuji Shibasaki）在会议中介绍使用XPS和AES分析解决电子原件的失效问题

3月20日，高德公司受昆明仪器仪表学会的邀请，参加了2015年度由学会主办的分析仪器新技术与应用交流会。昆明仪器仪表学会是在云南省里经营推广学术交流、科技培训、科技咨询、出版刊物等等的指标性机构之一。   是次交流会是根据了广大的仪表学会会员的工作需求下所举办，参会的包括有昆钢、云铜、云南盐化、云天化等大型企业，云南化工设计院、昆明有色冶金设计院及其高校的有关工程技术人员等。   会议地点是在昆明理工大学新迎校区专家楼宾馆1号报告厅举行，参会人员在当天下午1点30分到5点进行了热烈的交流。高德公司的鲁德凤女士和潘建南先生参加了本次会议，并在会议中介绍了Ulvac-Phi公司目前在全球最先进的表面分析技术与相关的应用。当中包括了如何使用XPS（光电子能谱仪）或Tof-SIMS（飞行时间二次离子质谱仪）进行如大阳能电池和OLED产品材料相关应用的分析。在昆明仪器仪表学会的努力安排之下，交流会得以顺利圆满的完成。   会议现场   鲁德凤女士在会议中报告

最新的高德电子报Vol.0042 - 分析仪器中常用的能量分析器带电粒子能量分析器 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

最新的高德电子报Vol.0041 - XPS分析粉末样品 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

最新的高德电子报Vol.0040 - AES深度剖析数据处理LLS&TFA 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。