ULVAC-PHI, Inc., có trụ sở chính tại Chigasaki, Nhật Bản, được công nhận rộng rãi là một trong những đơn vị dẫn đầu thế giới về thiết bị phân tích bề mặt. Trong nhiều thập kỷ, ULVAC-PHI đã thiết lập các tiêu chuẩn trong lĩnh vực XPS, AES và TOF-SIMS, cung cấp các thiết bị nổi bật về hiệu suất và độ tin cậy.
ULVAC-PHI không ngừng mở rộng giới hạn trong lĩnh vực phân tích và đặc tính hóa bề mặt, đặc biệt với những công nghệ tiên phong trên thế giới, như nguồn tia X quét kép cho phép kết hợp phân tích XPS và HAXPES.
